[发明专利]用于测定在被测介质中的分析物浓度的测量装置及方法有效
申请号: | 201180039443.6 | 申请日: | 2011-08-08 |
公开(公告)号: | CN103119431A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 迈克尔·汉克;托马斯·威廉 | 申请(专利权)人: | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司 |
主分类号: | G01N27/416 | 分类号: | G01N27/416;G01N27/49 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 关兆辉;谢丽娜 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种用于测定在被测介质(M)中的分析物浓度的测量装置(1),包括三电极装置,所述三电极装置具有工作电极(WE)、基准电极(RE)和对置电极(CE),其中所述工作电极包括分析物不敏感氧化还原介体(4),并且所述基准电极包括pH敏感电极。对置电极能够由不活泼导电物质形成。测量装置能够被具体化为在所述工作电极和所述基准电极之间提供期望的电压,并在这样的情况下测定在所述对置电极和所述工作电极之间流过被测介质的电流。 | ||
搜索关键词: | 用于 测定 介质 中的 分析 浓度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于测定在被测介质(M)中的分析物浓度的测量装置(1,1',1'',1′″),其中所述测量装置包括三电极装置,所述三电极装置具有工作电极(WE)、基准电极(RE)和对置电极(CE),其中所述工作电极(WE)包括分析物不敏感氧化还原介体(4),并且所述基准电极(RE)包括分析物敏感电极。
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