[发明专利]激光测量系统有效
申请号: | 201180044301.9 | 申请日: | 2011-09-12 |
公开(公告)号: | CN103097859A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 熊谷薰;古平纯一 | 申请(专利权)人: | 株式会社拓普康 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;李浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 这种激光测量装置配备有:矫平单元(3),具有矫平电机;光源单元(14),发射激光束;投影光学系统,被提供给矫平单元并辐照激光束;电源单元,把电力提供给每个构成部分;控制单元(7),驱动每个构成部分的驱动;记录单元(26);倾斜检测装置(11),被提供给矫平单元并检测矫平状态;旋转频率检测装置(13),检测电机的旋转频率;光源检测装置(16a,16b),检测光源单元的发光状态;电压检测装置(24),检测由电源单元输出的电压;和异常检测单元,检测操作异常。控制单元通过异常检测装置监测异常的存在/不存在,按照预定时间间隔对来自每个检测装置的检测信号进行采样,并按照时间顺序把检测信号组作为采样数据存储在记录单元中。当存储的采样数据超过预定量时,从最早的条目删除采样数据,并且由新的采样数据顺序覆写采样数据。当至少一个监测的检测信号指示异常时,其中指示异常的时间点作为基点的预定时间范围内的采样数据免于被删除,并被保存为用于异常原因分析的数据。 | ||
搜索关键词: | 激光 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种激光测量系统,包括:矫平单元,具有用于矫平的电机;光源单元,用于发射激光束;光投影光学系统,安装在矫平单元上并用于投影所述激光束;电源单元,用于把电力提供给每个部件位置;控制单元,用于驱动并控制每个所述部件位置;存储单元;倾斜检测装置,安装在所述矫平单元上并用于检测矫平条件;旋转数检测装置,用于检测所述电机的旋转数;光源检测装置,用于检测所述光源单元的发光条件;电压检测装置,用于检测所述电源单元的输出电压;和异常检测装置,用于检测操作异常,其中所述控制单元通过所述异常检测装置监测是否存在异常,按照预定时间间隔对来自每个所述检测装置的检测信号进行采样,并按照时间顺序把如此检测的信号组存储在所述存储单元中作为采样数据,并且当存储的采样数据超过预定量时,较早的数据被删除,并且新的采样数据被顺序覆写,并且当用于监测的至少一个检测信号指示异常时,使用指示异常的点作为基点,在预定时间段的范围中的采样数据免于成为删除的目标并被保留作为用于异常的原因的分析的数据。
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