[发明专利]用于在多个腔室中的颗粒吸引的磁系统在审

专利信息
申请号: 201180044481.0 申请日: 2011-09-05
公开(公告)号: CN103109193A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: M·M·奥夫扬科 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N33/543;B03C1/28
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及磁性样本处理设备,具体而言涉及一种传感器设备(100),所述传感器设备(100)包括两个电磁体(110、120),所述两个电磁体(110、120)用于在在x方向上彼此相邻定位的第一样本腔室(SC1)和第二样本腔室(SC2)中生成磁场(B)。将所述电磁体的磁极在垂直的y方向上彼此靠近地分别设置在所述第一样本腔室(SC1)和所述第二样本腔室(SC2)的下方。此外,所述电磁体由控制单元(130)单独地控制。在优选的实施例中,所述电磁体(110、120)之间的距离在x方向上的大到磁串扰可以被忽略。在另一实施例中,所述距离是紧密的,并且以同步的方式操作所述电磁体。
搜索关键词: 用于 多个腔室 中的 颗粒 吸引 系统
【主权项】:
一种样本处理设备(100、200),其具有用于在第一样本腔室(SC1)和第二样本腔室(SC2)中生成磁场(B)的器件,所述第一样本腔室(SC1)和所述第二样本腔室(SC2)在x方向上彼此相邻定位,所述设备包括:a)第一电磁体(110、210),其具有能够设置于所述第一样本腔室(SC1)下方的、在与所述x方向基本垂直的y方向上彼此靠近的第一磁极对(111、111'、211、211');b)第二电磁体(120、220),其具有能够设置于所述第二样本腔室(SC2)下方的、在所述y方向上彼此靠近的第二磁极对(121、121'、221、221');c)控制单元(130),其用于单独地控制所述第一电磁体和第二电磁体。
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