[发明专利]超高选择性的掺杂非晶碳可剥除硬掩模的开发与集成无效
申请号: | 201180045061.4 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN103210480A | 公开(公告)日: | 2013-07-17 |
发明(设计)人: | M·J·西蒙斯;S·拉蒂;K·D·李;D·帕德希;金秉宪;C·陈 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/312 | 分类号: | H01L21/312 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍;刘佳 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的实施例大体上关于集成电路的制造,并且尤其关于含硼非晶碳层在半导体基板上的沉积。在一实施例中,提供一种在处理腔室中处理基板的方法。此方法包含:在处理空间中提供基板;使含碳氢化合物气体混合物流动到处理空间内;通过从RF源施加功率来产生含碳氢化合物气体混合物的等离子体;使含硼气体混合物流动到处理空间内;及在等离子体的存在下,在基板上沉积含硼非晶碳膜,其中含硼非晶碳膜含有原子百分比为约30至约60的硼。 | ||
搜索关键词: | 超高 选择性 掺杂 非晶碳可 剥除 硬掩模 开发 集成 | ||
【主权项】:
一种在处理腔室中处理基板的方法,所述方法包含:在RF功率的存在下,使基板暴露于含碳氢化合物气体的流动,以在所述基板上沉积不含硼的非晶碳膜;关闭所述RF功率,同时使所述含碳氢化合物气体持续流动;及在RF功率的存在下,使所述基板暴露于含硼气体的流动与所述含碳氢化合物气体的流动,以在所述不含硼的非晶碳膜上沉积含硼非晶碳膜,其中所述含硼非晶碳膜含有原子百分比为约30至60的硼。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造