[发明专利]超高选择性的掺杂非晶碳可剥除硬掩模的开发与集成无效

专利信息
申请号: 201180045061.4 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN103210480A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: M·J·西蒙斯;S·拉蒂;K·D·李;D·帕德希;金秉宪;C·陈 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/312 分类号: H01L21/312
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆勍;刘佳
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明的实施例大体上关于集成电路的制造,并且尤其关于含硼非晶碳层在半导体基板上的沉积。在一实施例中,提供一种在处理腔室中处理基板的方法。此方法包含:在处理空间中提供基板;使含碳氢化合物气体混合物流动到处理空间内;通过从RF源施加功率来产生含碳氢化合物气体混合物的等离子体;使含硼气体混合物流动到处理空间内;及在等离子体的存在下,在基板上沉积含硼非晶碳膜,其中含硼非晶碳膜含有原子百分比为约30至约60的硼。
搜索关键词: 超高 选择性 掺杂 非晶碳可 剥除 硬掩模 开发 集成
【主权项】:
一种在处理腔室中处理基板的方法,所述方法包含:在RF功率的存在下,使基板暴露于含碳氢化合物气体的流动,以在所述基板上沉积不含硼的非晶碳膜;关闭所述RF功率,同时使所述含碳氢化合物气体持续流动;及在RF功率的存在下,使所述基板暴露于含硼气体的流动与所述含碳氢化合物气体的流动,以在所述不含硼的非晶碳膜上沉积含硼非晶碳膜,其中所述含硼非晶碳膜含有原子百分比为约30至60的硼。
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