[发明专利]调整半导体器件中的阈值电压的方法有效
申请号: | 201180045530.2 | 申请日: | 2011-07-26 |
公开(公告)号: | CN103229282A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 迈克尔·G·沃德;伊戈尔·V·佩德斯;桑尼·江;严·B·丹;安德鲁·达拉克;彼得·I·波尔什涅夫;斯瓦米纳坦·斯里尼瓦桑 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L21/8228 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本文提供在基板上形成器件的方法。在某些实施例中,在基板上形成器件的方法可包括下列步骤:提供基板,基板具有部分制造的第一器件设置于基板上,第一器件包括第一膜堆叠,第一膜堆叠包含第一介电层及设置于第一介电层顶上的第一高介电常数介电层;于第一膜堆叠顶上沉积第一金属层;以及修饰第一金属层的第一上表面,以调整第一器件的第一阈值电压,其中第一上表面的修饰不延伸穿过至第一金属层的第一下表面。 | ||
搜索关键词: | 调整 半导体器件 中的 阈值 电压 方法 | ||
【主权项】:
一种在基板上形成器件的方法,包含下列步骤:提供基板,所述基板具有部分制造的第一器件设置于所述基板上,所述第一器件包括第一膜堆叠,所述第一膜堆叠包含第一介电层及设置于所述第一介电层顶上的第一高介电常数介电层;在所述第一膜堆叠顶上沉积第一金属层;以及修饰所述第一金属层的第一上表面,以调整所述第一器件的第一阈值电压,其中所述第一上表面的修饰不延伸穿过至所述第一金属层的第一下表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造