[发明专利]用于操作金属探测系统的方法以及金属探测系统

摘要

本方法用作操作金属探测系统，该金属探测系统包括具有连接到发射器单元（1）的发射器线圈（21）并具有向接收器单元（3）提供输出信号（s22、s23）的第一接收器线圈和第二接收器线圈（22、23）的平衡线圈系统（2），该发射器单元（1）提供具有可选择的发射器频率（fTX）的发射器信号（s1），第一接收器线圈和第二接收器线圈在金属探测系统处于平衡中的情况下彼此补偿，且在产品（P）存在于平衡线圈系统（2）中的情况下提供被发送到信号处理单元的输出信号，该信号处理单元至少抑制产品信号的分量并传送由包含在产品（P）中的金属污染物引起的信号分量。

主权项

一种用于操作金属探测系统的方法，所述金属探测系统包括平衡线圈系统(2)，所述平衡线圈系统(2)具有连接到发射器单元(1)的发射器线圈(21)并具有向接收器单元(3)提供输出信号(s22、s23)的第一接收器线圈和第二接收器线圈(22、23)，所述发射器单元(1)提供具有可选择的发射器频率的发射器信号(s1)，所述第一接收器线圈和第二接收器线圈(22、23)在所述金属探测系统处于平衡中的情况下彼此补偿，且在产品存在于所述平衡线圈系统(2)中的情况下提供被发送到信号处理单元的输出信号，所述信号处理单元至少抑制产品信号的分量并传送由包含在所述产品中的金属污染物引起的信号分量，所述方法包括下列步骤：a)针对至少两个发射器频率中的每个并且针对一种或多种金属污染物的至少两个颗粒尺寸，来确定所述金属污染物的相关信号的相位和振幅；b)针对所述至少两个发射器频率确定特定产品的相关信号的相位和振幅；c)针对所述至少两个发射器频率，比较针对所述一种或多种金属污染物建立的信息与针对所述产品建立的信息；d)确定优选的发射器频率，利用所述优选的发射器频率，所述一种或多种金属污染物的最小尺寸的颗粒的信号分量在相位和振幅上与所述产品信号的相位和振幅最不相同；以及e)针对每种金属污染物类型，选择所述优选的发射器频率来用于测量所述特定产品；以及f1)交替地应用所选择的发射器频率并相应地在所述接收器单元(3)中对它们进行滤波；或f2)同时应用所选择的发射器频率并相应地在所述接收器单元(3)中对它们进行滤波。