[发明专利]X射线CT装置以及图像再构成方法有效
申请号: | 201180049466.5 | 申请日: | 2011-10-13 |
公开(公告)号: | CN103153192A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 高桥悠;后藤大雅;广川浩一 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立医疗器械 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;郭凤麟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了提供通过稳定地收敛、并且能够高速执行的逐次近似法再构成图像的X射线CT装置等,X射线CT装置(1)的运算装置(5)基于从输入装置(6)输入的摄影条件计算矩阵A、B、D、R、R’(步骤1)。然后,运算装置(5)计算矩阵I-α(SBTDA+βSR)的各要素(步骤2)。然后,运算装置(5)计算矩阵I-α(SBTDA+βSR)的算子范数||I-α(SBTDA+βSR)||(步骤3)。然后,运算装置(5)决定松弛系数α以便满足预定的条件式(步骤4)。 | ||
搜索关键词: | 射线 ct 装置 以及 图像 构成 方法 | ||
【主权项】:
一种X射线CT装置,通过使在正投影处理和逆投影处理中互相不转置的矩阵起作用的逐次近似法再构成被拍摄体的断层像,其特征在于,具备:摄影部,其基于摄影条件取得所述被拍摄体的实际投影数据;以及运算部,其使用所述投影条件、以及包含决定计算的收敛性的松弛系数的所述逐次近似法的更新式,进行针对所述实际投影数据的逐次近似,由此再构成所述断层像,基于所述摄影条件以解析方式计算所述松弛系数。
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