[发明专利]微分相位对比成像

摘要

本发明涉及微分相位对比成像，尤其是用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅，例如分析器光栅和相位光栅的结构。为了提供增强的基于相位梯度的图像数据，为用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅（14，15）提供第一子区域（23），其包括第一光栅结构（26）的至少一个部分（24）和第二光栅结构（30）的至少一个部分（28）。所述第一光栅结构包括周期性布置的具有第一光栅取向GO1（37）的多个条（34）和间隙（36）；其中布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，且其中所述间隙能透过X射线。第二光栅结构包括周期性布置的具有第二光栅取向GO2（44）的多个条（40）和间隙（42），其中布置条，使得它们改变X射线的相位和/或幅度，且其中间隙能透过X射线。所述第一光栅取向GO1与所述第二光栅取向GO2不同。于是，可以针对不同方向采集基于相位梯度的图像信息，无需在例如采集步骤之间旋转或绕枢轴转动任何相应的光栅。

主权项

一种用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅（14，15），包括第一子区域（23），所述第一子区域具有：‑第一光栅结构（26）的至少一个部分（24）；以及‑第二光栅结构（30）的至少一个部分（28）；其中，所述第一光栅结构包括周期性布置的具有第一光栅取向GO1（37）的多个条（34）和间隙（36）；其中，布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙能透过X射线；其中，所述第二光栅结构包括周期性布置的具有第二光栅取向GO2（44）的多个条（40）和间隙（42）；其中，布置所述条使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙能透过X射线；并且其中，所述第一光栅取向GO1与所述第二光栅取向GO2不同。