[发明专利]磁记录介质用玻璃基板、磁记录介质、以及磁记录介质用玻璃基板毛坯有效

专利信息
申请号: 201180052195.9 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN103189917A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 松本奈绪美;越阪部基延;蜂谷洋一 申请(专利权)人: HOYA株式会社
主分类号: G11B5/73 分类号: G11B5/73;C03C3/085;C03C3/087;C03C3/095;C03C21/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 庞东成;张志楠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板含有下述玻璃,在该玻璃中,以摩尔%表示含有56%~75%的SiO2、1%~11%的Al2O3、大于0%且为4%以下的Li2O、1%以上且小于15%的Na2O、0%以上且小于3%的K2O,并且实质上不含有BaO;Li2O、Na2O和K2O的总含量为6%~15%;摩尔比(Li2O/Na2O)小于0.50;摩尔比{K2O/(Li2O+Na2O+K2O)}为0.13以下;MgO、CaO和SrO的总含量为10%~30%的范围;MgO和CaO的总含量为10%~30%的范围;摩尔比{(MgO+CaO)/(MgO+CaO+SrO)}为0.86以上;上述碱金属氧化物和碱土金属氧化物的总含量为20%~40%;摩尔比{(MgO+CaO+Li2O)/(Li2O+Na2O+K2O+MgO+CaO+SrO)为0.50以上;ZrO2、TiO2、Y2O3、La2O3、Gd2O3、Nb2O5和Ta2O5的总含量大于0%且为10%以下;摩尔比{(ZrO2+TiO2+Y2O3+La2O3+Gd2O3+Nb2O5+Ta2O5)/Al2O3}为0.40以上;该玻璃的玻璃化转变温度为600℃以上、100℃~300℃的平均线膨胀系数为70×10-7/℃以上、且杨氏模量为80GPa以上。
搜索关键词: 记录 介质 玻璃 以及 毛坯
【主权项】:
一种磁记录介质用玻璃基板,其中,该玻璃基板含有下述玻璃:在该玻璃中,以摩尔%表示含有56%~75%的SiO2、1%~11%的Al2O3、大于0%且为4%以下的Li2O、1%以上且小于15%的Na2O、0%以上且小于3%的K2O,且实质上不含有BaO;选自由Li2O、Na2O和K2O组成的组中的碱金属氧化物的总含量为6%~15%的范围;Li2O含量相对于Na2O含量的摩尔比(Li2O/Na2O)小于0.50;K2O含量相对于上述碱金属氧化物的总含量的摩尔比{K2O/(Li2O+Na2O+K2O)}为0.13以下;选自由MgO、CaO和SrO组成的组中的碱土金属氧化物的总含量为10%~30%的范围;MgO和CaO的总含量为10%~30%的范围;MgO和CaO的总含量相对于上述碱土金属氧化物的总含量的摩尔比{(MgO+CaO)/(MgO+CaO+SrO)}为0.86以上;上述碱金属氧化物和碱土金属氧化物的总含量为20%~40%的范围;MgO、CaO和Li2O的总含量相对于上述碱金属氧化物和碱土金属氧化物的总含量的摩尔比{(MgO+CaO+Li2O)/(Li2O+Na2O+K2O+MgO+CaO+SrO)为0.50以上;选自由ZrO2、TiO2、Y2O3、La2O3、Gd2O3、Nb2O5和Ta2O5组成的组中的氧化物的总含量大于0%且为10%以下;上述氧化物的总含量相对于Al2O3含量的摩尔比{(ZrO2+TiO2+Y2O3+La2O3+Gd2O3+Nb2O5+Ta2O5)/Al2O3}为0.40以上;该玻璃的玻璃化转变温度为600℃以上、100℃~300℃的平均线膨胀系数为70×10‑7/℃以上、且杨氏模量为80GPa以上。
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