[发明专利]高度灵敏的单克隆抗体残留物检测测定法无效
| 申请号： | 201180054320.X | 申请日： | 2011-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN103221823A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | L.杨;N.拉马苏布拉曼延 | 申请（专利权）人： | ABBVIE公司 |
| 主分类号： | G01N33/53 | 分类号： | G01N33/53;G01N33/68 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 刘健;权陆军 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于在监测产物遗留时检测生物技术产物残留物和/或用于在生物技术产物的制造中清洁验证的组合物和高度灵敏的方法。具体而言，本发明涉及免疫测定法，其中一种或多种捕获抗体或其抗原结合片段用于检测与生物技术产物生产相关的残留物。 | ||
| 搜索关键词： | 高度 灵敏 单克隆抗体 残留物 检测 测定法 | ||
【主权项】：
用于检测生物技术产物残留物的方法，其中将测试样品与包含对于所述产物残留物特异性的捕获抗体或其抗原结合片段的基质接触，并且抗体‑抗原复合物的检测指示生物技术产物残留物的存在。
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