[发明专利]质量分析装置有效
| 申请号： | 201180058115.0 | 申请日： | 2011-10-03 |
| 公开（公告）号： | CN103250229A | 公开（公告）日： | 2013-08-14 |
| 发明（设计）人： | 长谷川英树;杉山益之;佐竹宏之;桥本雄一郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06;G01N27/62;H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 陈伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的质量分析装置的特征在于，具备：具有多极杆电极(1)的离子透过部(37)；对多极杆电极施加电压的电源部(5)；控制电源部的控制部，多极杆电极具有在轴向彼此不同的位置被分割成多个节杆(2A-1、2A-2、2B-1、2B-2、2C-1、2C-2、2D-1、2D-2)的杆电极。根据本发明，能够以低成本进行高吞吐量的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种质量分析装置，具有：具有多极杆电极的离子透过部；对所述多极杆电极施加电压的电源部；和控制所述电源部的控制部，其特征在于，所述多极杆电极具有在轴向的彼此不同的位置被分割成多个节杆的杆电极。
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