[发明专利]同时寻找和测定复杂样品中的多种分析物的方法及系统无效
| 申请号： | 201180062637.8 | 申请日： | 2011-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103370615A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | B·D·莱特内尔;E·洛;C·巴内斯;M·J·斯泰恩 | 申请（专利权）人： | 华盛顿大学商业中心 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;G01N1/28;H01J49/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 张琤 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于通过解吸电离、质量分析以及多变量统计分析从样品材料中检测多种分析物的方法和系统。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 寻找 测定 复杂 样品 中的 多种 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
要求排他性的所有权或特权的本发明的实施方案被限定如下：1.用于检测样品材料中的分析物的方法，其包括：(a)通过样品材料的常压解吸电离产生分析物颗粒；(b)用质量分析仪对分析物颗粒进行分析，以提供来自混合样品的分析物颗粒的质谱；以及(c)通过对所述质谱的多变量统计学分析来确定样品材料中分析物的存在。
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