[发明专利]质量分析装置、分析法和校准试样有效
| 申请号： | 201180063702.9 | 申请日： | 2011-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103282770A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木翠;田村辉美;伊藤伸也;野上真 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张玉玲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种质量分析装置，其可使质量分析装置中用于将分析对象物定量的标准曲线的制成迅速化和简单化。在质量分析装置中，具备：试样保存和稀释部(1)：其对包含定量用校准物的分析对象物的试样进行保存，该定量用校准物为对所定量的1个分析对象物，以不同浓度将分析对象物、多个分析对象物的稳定同位素化合物和多个分析对象物的相似体化合物当中的2种以上的化合物混合得到；将试样离子化的离子化部(5)；分析经离子化的试样的质量分析部(6)；和，基于通过质量分析部(6)分析定量用校准物得到的分析结果，测定2个以上的浓度，并基于该测定的信息来定量的数据处理部(7)。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析 装置 校准 试样 | ||
【主权项】：
一种分析法，其特征在于，其为将分析对象物定量的分析装置中的分析法，其中，准备定量用校准物，并通过所述分析装置测定所述定量用校准物，从而用所述定量用校准物测定2个以上的浓度，基于该测定的信息来定量，所述定量用校准物是对要定量的1个所述分析对象物，将所述分析对象物、多个所述分析对象物的稳定同位素化合物和多个所述分析对象物的相似体化合物当中的2种以上的化合物作为校准物质，并分别以不同浓度混合而得到的。
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