[发明专利]对使用第一本地可测回路特性和第一参数集合的第一回路特征值估计方法进行校准的过程和系统

摘要

本发明涉及一种用于对使用第一本地可测回路特性和第一参数集合的第一回路特征值估计方法进行校准的过程，包括：测量多个回路的第一本地可测回路特性；获得表示回路特征值的参考估计的参考数据集合，该参考估计通过执行使用第二本地可测回路特性和第二参数集合的已校准的第二回路特征值估计方法获得；以及确定已校准的参数，以最小化所述参考估计与如下估计之间的偏差，即通过将已校准的参数用作第一参数集合而将第一回路特征值估计方法应用到所述测量所获得的估计。本发明还包括一种用于对使用第一本地可测回路特性和第一参数集合的第一回路特征值估计方法进行校准的系统。

主权项

一种用于对使用第一本地可测回路特性和第一参数集合的第一回路特征值估计方法进行校准的校准过程，包括：‑测量第一多个回路的所述第一本地可测回路特性；‑获得表示所述回路特征值的参考估计的参考数据集合，所述参考估计通过执行已校准的第二回路特征值估计方法获得，所述第二回路特征值估计方法使用第二本地可测回路特性和第二参数集合；以及‑确定已校准的参数，以最小化所述参考估计与如下估计之间的偏差，所述估计是通过将所述已校准的参数用作所述第一参数集合而将所述第一回路特征值估计方法应用到所述测量可获得的估计。