[发明专利]勾画组织损伤的方法有效
| 申请号： | 201180065488.0 | 申请日： | 2011-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN103339653B | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 卡瑟班·那亘提拉亚;基姆·莫里德森;拉尔斯·李斯加德·里伯 | 申请（专利权）人： | 奥胡斯大学;中日德兰大区 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 郑立;田嘉嘉 |
| 地址： | 丹麦*** | 国省代码： | 丹麦;DK |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于估算生物组织中的半暗带的半暗带尺寸的度量，其中分别通过灌注加权成像（PWI）和弥散加权成像（DWI）分析获得的第一和第二图像；且其中第一图像的分析包括水平集方法的应用，第二图像的分析包括灰度形态运算的应用。在本发明进一步的实施例中，连通组件标记算法可以应用在第一和第二图像中的任何一个上。本发明进一步涉及系统、计算机程序产品和相应方法的使用。 | ||
| 搜索关键词： | 勾画 组织 损伤 方法 | ||
【主权项】：
一种估算生物组织中半暗带的半暗带尺寸的度量的方法，所述方法包括以下步骤：—接收第一图像，所述第一图像包括表示空间分辨灌注参数的数据；—接收第二图像，所述第二图像包括表示空间分辨弥散参数的数据；—在所述第一图像上识别第一区域，所述第一区域对应于灌注损伤；—在所述第二图像上识别第二区域，所述第二区域对应于弥散损伤；—基于第一和第二区域估算半暗带尺寸的度量；其中所述方法进一步包括：—在所述第一图像上应用第一图像处理方法，所述第一图像处理方法包括水平集方法；—在所述第二图像上应用第二图像处理方法，所述第二图像处理方法包括灰度形态运算。
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