[发明专利]自适应静电放电(ESD)保护电路有效

专利信息
申请号: 201180066374.8 申请日: 2011-12-09
公开(公告)号: CN103339727A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 菲利普·德瓦尔;尼古拉斯·富雷尔;巴尔特·德耶特 申请(专利权)人: 密克罗奇普技术公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 沈锦华
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 为了进行自适应静电放电ESD保护,一种具有自适应静电放电ESD保护的集成电路装置具有:受保护免于ESD的外部连接引脚;外部接地连接引脚;自适应静电放电ESD保护电路,所述自适应静电放电ESD保护电路具有:ESD保护N金属氧化物半导体NMOS晶体管,所述ESD保护N金属氧化物半导体NMOS晶体管具有连接到所述外部连接引脚的漏极以及连接到接地的源极及本体;电阻器,所述电阻器耦合于所述NMOS晶体管的栅极与接地之间;第一PMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管具有耦合到所述NMOS晶体管的栅极的源极及连接到接地的漏极;第一电容器,所述第一电容器具有连接到所述外部连接引脚的第一端子及与所述NMOS晶体管的所述栅极耦合的第二端子,其中所述自适应ESD保护电路内的所述第一电容器是连接到所述外部连接引脚的唯一电容器。
搜索关键词: 自适应 静电 放电 esd 保护 电路
【主权项】:
一种具有自适应静电放电ESD保护的集成电路装置,其包括:受保护免于ESD的外部连接引脚;外部接地连接引脚;自适应静电放电ESD保护电路,其包括:ESD保护N金属氧化物半导体NMOS晶体管,其具有连接到所述外部连接引脚的漏极以及连接到接地的源极及本体;电阻器,其耦合于所述NMOS晶体管的栅极与接地之间;第一PMOS晶体管,其具有耦合到所述NMOS晶体管的栅极的源极及连接到接地的漏极;第一电容器,其具有连接到所述外部连接引脚的第一端子及与所述NMOS晶体管的所述栅极耦合的第二端子,其中所述自适应ESD保护电路内的所述第一电容器是连接到所述外部连接引脚的唯一电容器。
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