[发明专利]用于确定测量仪的位置和定向的方法和系统

摘要

公开了一种用于确定第一测量仪（MI）的位置和定向的方法。第二MI以及包括逆向反射器单元的至少一个反射目标（TGT）被布置在所述第一MI附近。为了确定所述第一MI的定向，至少一个成像模块被布置在所述第一MI中。通过检测从所述第二MI发射且被所述至少一个TGT反射的光辐射，所述第一MI中的所述至少一个成像模块能够以与光学全站仪的跟踪器单元相似的方式被使用。

主权项

一种用于确定第一测量仪MI（110）的位置和定向的方法（500），所述第一测量仪包括逆向反射器单元（112）、被配置成当启动时发射光辐射的至少一个第一光辐射源（111）和至少一个成像模块（115），所述方法包括选择性地启动和关闭所述至少一个第一光辐射源、使用第二MI（120）和至少一个目标TGT（130）的步骤，所述第二MI（120）包括被配置成当启动时发射光辐射的至少一个第二光辐射源（121），所述至少一个目标TGT（130）包括使得所述TGT能够在捕获了所述TGT的图像中被识别的识别装置（135），所述方法包括：测量（S501）所述第二MI分别到所述第一MI和所述至少一个TGT的角度和距离；促使（S502）所述至少一个成像模块捕获图像，包含交替启动和关闭所述至少一个第二光辐射源；生成（S503）每个所捕获的图像的图像表示；使用所述图像表示创建（S504）差分图像；提取（S505）关于呈现在所述差分图像中的对象的信息；使用所提取的信息，分别将所述第二MI和所述至少一个TGT与呈现在所述图像中的任何其他对象区分开（S506）；在能够分别将所述第二MI和所述至少一个TGT与呈现在所述图像中的任何其他对象区分开的情况下：基于所提取的信息，处理（S507）所述图像表示中的任何图像表示，以确定所述第二MI和/或所述至少一个TGT分别相对于至少一个轴线的角度信息；基于所述第一MI分别到所述第二MI和/或所述至少一个TGT的角度和距离以及所述角度信息，估计（S508）所述第一MI的定向。