[发明专利]挠性器件的制造方法及挠性器件有效

专利信息
申请号: 201180070682.8 申请日: 2011-07-06
公开(公告)号: CN103518262A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 田中裕司;奥本健二 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;G09F9/00;G09F9/30;H01L21/02;H01L27/32;H01L51/50;H05B33/02
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 段承恩;田欣
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种制造挠性器件5的方法,是在表面具有羟基的支撑体1上涂布规定的溶液并烧成而形成剥离层2,在上述剥离层2上形成挠性基板3、器件4,以上述支撑体1与上述剥离层2之间为界,从上述支撑体1上剥离上述剥离层2、上述挠性基板3和上述器件4,来制造挠性器件5的方法,其中,在上述第2工序中的烧成温度为200℃以上且小于270℃的情况下,使上述规定的溶液中的烷基烷氧基硅烷衍生物中含有的硅原子数、与上述烷氧基钛衍生物中含有的钛原子数之比为3.3~4.1:1,在上述烧成温度为270℃以上330℃以下的情况下,使上述比为3.3~23:1,在上述烧成温度为超过330℃且350℃以下的情况下,使上述比为19~23:1。
搜索关键词: 性器 制造 方法
【主权项】:
一种挠性器件的制造方法,其包含:在表面具有羟基的支撑体上涂布规定的溶液而形成薄膜的第1工序、将所述薄膜烧成而形成剥离层的第2工序、在所述剥离层上形成挠性基板的第3工序、在所述挠性基板上形成器件的第4工序、和以所述支撑体与所述剥离层之间为界,从所述支撑体上剥离所述剥离层、所述挠性基板和所述器件的第5工序,所述规定的溶液含有烷基烷氧基硅烷衍生物和烷氧基钛衍生物,在所述第2工序中,涂布所述规定的溶液而形成的薄膜的烧成温度为200℃以上350℃以下,在所述烧成温度为200℃以上且小于270℃的情况下,所述烷基烷氧基硅烷衍生物中含有的硅原子数、与所述烷氧基钛衍生物中含有的钛原子数之比为3.3~4.1:1,在所述烧成温度为270℃以上330℃以下的情况下,所述比为3.3~23:1,在所述烧成温度为超过330℃且350℃以下的情况下,所述比为19~23:1。
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