[发明专利]挠性器件的制造方法及挠性器件有效
申请号: | 201180070682.8 | 申请日: | 2011-07-06 |
公开(公告)号: | CN103518262A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 田中裕司;奥本健二 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;G09F9/00;G09F9/30;H01L21/02;H01L27/32;H01L51/50;H05B33/02 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;田欣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种制造挠性器件5的方法,是在表面具有羟基的支撑体1上涂布规定的溶液并烧成而形成剥离层2,在上述剥离层2上形成挠性基板3、器件4,以上述支撑体1与上述剥离层2之间为界,从上述支撑体1上剥离上述剥离层2、上述挠性基板3和上述器件4,来制造挠性器件5的方法,其中,在上述第2工序中的烧成温度为200℃以上且小于270℃的情况下,使上述规定的溶液中的烷基烷氧基硅烷衍生物中含有的硅原子数、与上述烷氧基钛衍生物中含有的钛原子数之比为3.3~4.1:1,在上述烧成温度为270℃以上330℃以下的情况下,使上述比为3.3~23:1,在上述烧成温度为超过330℃且350℃以下的情况下,使上述比为19~23:1。 | ||
搜索关键词: | 性器 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种挠性器件的制造方法,其包含:在表面具有羟基的支撑体上涂布规定的溶液而形成薄膜的第1工序、将所述薄膜烧成而形成剥离层的第2工序、在所述剥离层上形成挠性基板的第3工序、在所述挠性基板上形成器件的第4工序、和以所述支撑体与所述剥离层之间为界,从所述支撑体上剥离所述剥离层、所述挠性基板和所述器件的第5工序,所述规定的溶液含有烷基烷氧基硅烷衍生物和烷氧基钛衍生物,在所述第2工序中,涂布所述规定的溶液而形成的薄膜的烧成温度为200℃以上350℃以下,在所述烧成温度为200℃以上且小于270℃的情况下,所述烷基烷氧基硅烷衍生物中含有的硅原子数、与所述烷氧基钛衍生物中含有的钛原子数之比为3.3~4.1:1,在所述烧成温度为270℃以上330℃以下的情况下,所述比为3.3~23:1,在所述烧成温度为超过330℃且350℃以下的情况下,所述比为19~23:1。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的