[发明专利]用于设备组成部分的状态监控的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201180072925.1 申请日: 2011-08-18
公开(公告)号: CN103748477A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: J.哈泽尔;G.里格;R.魏斯;H-J.维甘德 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 卢江;刘春元
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 为了检测设备组成部分的当前状态、即特别是为了显示电导体、电缆或类似的当前是否导电,建议与要监控的设备组成部分连接的场产生装置以及用于产生OMR半导体元件的两个电极之间的电压的电压源,其中所述场产生装置在设备部分的附近产生磁场,并且与有机磁阻OMR半导体元件连接,所述OMR半导体元件位置固定地被布置在要监控的设备组成部分的附近。所述装置和方法具有下述优点,即显示可以简单并且便宜地被施加到几乎任意的设备部分上,也可以事后被施加在已经存在的设备中。相应的显示以最简单的方式本地受限制地显示所期望的信息:如果电导体现在配备电流,那么附加的分析是不需要的。
搜索关键词: 用于 设备 组成部分 状态 监控 装置 方法
【主权项】:
用于确定可能导电的设备组成部分(L)、特别是技术设备的电导体的状态的装置,具有:-与要监控的设备组成部分(L)连接的场产生装置(L),所述场产生装置在设备部分的附近产生磁场(H),-有机磁阻OMR半导体元件(22),所述OMR半导体元件位置固定地被布置在要监控的设备组成部分(L)的附近,和-用于产生所述OMR半导体元件的两个电极(24、26)之间的电压的电压源(28、29)。
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