[发明专利]一种半导体芯片的加工方法有效

专利信息
申请号: 201210004216.6 申请日: 2012-01-09
公开(公告)号: CN102522329A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 薛列龙 申请(专利权)人: 薛列龙
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 225000 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种半导体芯片的加工方法。涉及一种无机械损伤的裂解工艺。提供了一种能高效、无机械损伤,且为后续加工提供友好衔接措施的半导体芯片的加工方法。包括以下步骤:对晶片进行扩散、设置氧化层和在氧化层上光刻窗口的工序;光刻窗口后,所述氧化层在晶片表面呈网格状;然后按以下步骤加工:1)、设置电极层;2)、一次酸蚀;3)、二次酸蚀;本发明工艺中先形成电极窗口,往晶片表面所述电极窗口上镀覆金属电极层。金属电极层在后道两次酸腐蚀过程中,基本与酸无反应。强酸与硅质的晶片本体有强烈的化学反应,并能迅速“蚀透”晶片本体,进而使得晶片按照设计形状裂解,最终制得常规手段难以获得的六角形、圆形等芯片。
搜索关键词: 一种 半导体 芯片 加工 方法
【主权项】:
一种半导体芯片的加工方法,包括以下步骤:对晶片进行扩散、设置氧化层和在氧化层上光刻窗口的工序;光刻窗口后,所述氧化层在晶片表面呈网格状;其特征在于,然后按以下步骤加工:1)、设置电极层;往所述窗口内晶片表面镀覆金属电极层; 2)、一次酸蚀;采用氢氟酸去除晶片表面的网格状氧化层,在所述金属电极层之间形成网格状沟槽; 3)、二次酸蚀;沿网格状沟槽往下注入混酸,腐蚀晶片本体,直至蚀透晶片本体,使得晶片本体分裂为若干芯片;制得。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于薛列龙,未经薛列龙许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210004216.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top