[发明专利]一种半导体芯片的加工方法有效
申请号: | 201210004216.6 | 申请日: | 2012-01-09 |
公开(公告)号: | CN102522329A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 薛列龙 | 申请(专利权)人: | 薛列龙 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 225000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种半导体芯片的加工方法。涉及一种无机械损伤的裂解工艺。提供了一种能高效、无机械损伤,且为后续加工提供友好衔接措施的半导体芯片的加工方法。包括以下步骤:对晶片进行扩散、设置氧化层和在氧化层上光刻窗口的工序;光刻窗口后,所述氧化层在晶片表面呈网格状;然后按以下步骤加工:1)、设置电极层;2)、一次酸蚀;3)、二次酸蚀;本发明工艺中先形成电极窗口,往晶片表面所述电极窗口上镀覆金属电极层。金属电极层在后道两次酸腐蚀过程中,基本与酸无反应。强酸与硅质的晶片本体有强烈的化学反应,并能迅速“蚀透”晶片本体,进而使得晶片按照设计形状裂解,最终制得常规手段难以获得的六角形、圆形等芯片。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 芯片 加工 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体芯片的加工方法,包括以下步骤:对晶片进行扩散、设置氧化层和在氧化层上光刻窗口的工序;光刻窗口后,所述氧化层在晶片表面呈网格状;其特征在于,然后按以下步骤加工:1)、设置电极层;往所述窗口内晶片表面镀覆金属电极层; 2)、一次酸蚀;采用氢氟酸去除晶片表面的网格状氧化层,在所述金属电极层之间形成网格状沟槽; 3)、二次酸蚀;沿网格状沟槽往下注入混酸,腐蚀晶片本体,直至蚀透晶片本体,使得晶片本体分裂为若干芯片;制得。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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