[发明专利]微压应力测试座

摘要

本发明是有关于一种微压应力测试座，包括有基座、测试端口、导引座、长压钳、短压钳、以及二按压件。长压钳及短压钳设置于基座的相对二侧，二按压件分别覆盖于长压钳及短压钳上。长压钳上有一凸面且短压钳上有一止合面，二者皆可选择式顶抵于导引座上。当下压二侧按压件时，即可放置一待测芯片，随后松开按压件，长压钳及短压钳会先回压至导引座上，方型压头再压合至待测芯片上，由此导引座可吸收大部份的冲击力，避免待测芯片损毁。

主权项

一种微压应力测试座，包括：一基座，开设有一容置槽；一测试端口，设置于该基座的该容置槽内；一导引座，开设有一测试槽，置于该基座的该容置槽内，并位于该测试端口上方，该导引座与该测试端口间夹设有多个第一弹性元件；一长压钳，设置于该基座的一侧，凸设有一凸面，可选择式顶抵于该导引座；一短压钳，设置于该基座上的该长压钳的相对侧，凸设有一止合面，可选择式顶抵于该导引座；以及二按压件，分别穿过该基座上的至少一贯穿柱，枢设于该基座上，并分别覆盖于该长压钳及该短压钳的一端，该二按压件与该基座间夹设有多个第二弹性元件。