[发明专利]局部阳极氧化制备纳米织构的方法无效
申请号: | 201210014870.5 | 申请日: | 2012-01-18 |
公开(公告)号: | CN102530842A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 莫宇飞;黄福川;卢朝霞;杨茂立 | 申请(专利权)人: | 广西大学 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 广西南宁公平专利事务所有限责任公司 45104 | 代理人: | 杨立华;翁建华 |
地址: | 530004 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种局部阳极氧化制备纳米织构的方法,该方法基于导电原子力显微镜,采用局部阳极氧化法制备纳米织构,可通过选择不同的脉冲电压、脉冲宽度以及表面湿度来实现对纳米织构高度(0.5~12nm)的控制。应用本发明制备的纳米织构,可有效阻止微纳米光机电系统器件表面的大面积接触,显著减小其表面粘着力。因此,本发明所制备的表面纳米织构具有很好的抗粘着性能。 | ||
搜索关键词: | 局部 阳极 氧化 制备 纳米 方法 | ||
【主权项】:
一种局部阳极氧化制备纳米织构的方法,其特征在于包括以下步骤:<1>羟基化单晶硅表面的制备先将单晶硅片的单晶硅表面浸泡在HF水溶液中进行氢钝化;取出氢钝化的单晶硅片,在去离子水中超声清洗,然后氮气吹干;<2>表面纳米织构的制备根据预设的图案编辑计算机脚本,将该计算机脚本导入导电原子力显微镜在线控制软件中,绘制出预设的图案;操作导电原子力显微镜,在控制脉冲电压、脉冲宽度和湿度的条件下,进行氧化加工,加工后的单晶硅片表面纳米织构经过导电原子力显微镜扫描后确认。
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