[发明专利]三维集成电路结构及材料的制造方法有效
申请号: | 201210016388.5 | 申请日: | 2012-01-19 |
公开(公告)号: | CN102543855A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 郭福春;刘冬生 | 申请(专利权)人: | 讯创(天津)电子有限公司;郭福春;刘冬生 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/02 |
代理公司: | 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 | 代理人: | 王小静 |
地址: | 300385 天津市西青经*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种新型的三维集成电路结构及材料的制造方法,步骤是在热塑性承载材料中加入醇类和/或醛类,用注塑机注塑成型为构件,质量含量5-10%;用激光射线在构件的表面照射出的线路图案;浸入pH=4-6的至少一种金属离子的溶液浸泡5-7分钟,水洗后放入pH=5的含有还原剂的水溶液中浸泡5-7分钟,在还原生成金属核的区域进行化学镀铜,镀层厚度为1-12微米,再中磷化学镀镍,镀层厚度为2-3微米。本发明在制备金属电路导体的过程中,由于塑性材料中不含有任何金属元素,保持了承载材料的原有机械性能,而且性能稳定,提高了导体轨道与承载材料之间的附着力,提高了三维集成电路的质量,降低了成本,减少了污染。 | ||
搜索关键词: | 三维集成电路 结构 材料 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种三维集成电路结构及材料的制造方法,其特征在于它是经过如下的步骤:1)在热塑性承载材料中加入非金属光诱导催化剂醇类和/或醛类,用注塑机注塑成型为构件,质量含量5‑10%;2)用激光射线在构件的表面照射出的线路图案;3)室温下浸入pH=4‑6的至少含一种金属离子的溶液中,浸泡5‑7分钟;4)用蒸馏水洗后放入pH=5的含有还原剂的水溶液中浸泡5‑7分钟,构件的表面生成金属核;5)在生成金属核的区域进行化学镀铜,镀层厚度为1‑12微米,再中磷化学镀镍,镀层厚度为2‑3微米。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造