[发明专利]晶硅太阳能电池及晶硅太阳能电池边缘刻蚀的方法无效
申请号: | 201210017809.6 | 申请日: | 2012-01-19 |
公开(公告)号: | CN102593241A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 陈剑辉;赵文超;王建明;陈迎乐;王子谦;沈燕龙;李高非;胡志岩;熊景峰 | 申请(专利权)人: | 英利能源(中国)有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C30B33/12 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 逯长明 |
地址: | 071051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明提供了一种晶硅太阳能电池边缘刻蚀的方法,用于去除经扩散工序后在硅片边缘形成的扩散层,包括步骤:生成耐碱薄膜层于硅片的上表面和下表面;使用第一预设浓度的碱溶液以第一预设温度清洗具有耐碱薄膜层的硅片第一预设时间;将碱洗后的硅片置于第二预设浓度的盐酸中以第二预设温度酸洗第二预设时间;使用第三预设温度的去离子水清洗酸洗后的硅片第三预设时间;对清洗后的硅片进行去离子水提拉清洗,并烘干。硅片上下表面均形成一层耐碱薄膜层,对硅片进行碱溶液清洗,碱溶液对硅片的边缘未覆盖耐碱薄膜层的部分进行碱溶液清洗,去除了边缘部分形成的扩散层,而不会对硅片的表面部分造成损伤。本发明还提供了一种晶硅太阳能电池。 | ||
搜索关键词: | 太阳能电池 边缘 刻蚀 方法 | ||
【主权项】:
一种晶硅太阳能电池边缘刻蚀的方法,用于去除经扩散工序后在硅片边缘形成的扩散层,其特征在于,包括如下步骤:1)生成耐碱薄膜层于所述硅片的上表面和下表面,得到具有耐碱薄膜层的硅片;2)使用第一预设浓度的碱性溶液以第一预设温度清洗具有耐碱薄膜层的硅片第一预设时间,得到碱洗后的硅片;3)将碱洗后的硅片置于第二预设浓度的酸性溶液中以第二预设温度酸洗第二预设时间,得到酸洗后的硅片;4)使用第三预设温度的去离子水清洗酸洗后的硅片第三预设时间,得到清洗后的硅片;5)对清洗后的硅片进行去离子水提拉清洗,并烘干,得到去除边缘扩散层的硅片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的