[发明专利]一键测试自动增益控制环路时间常数的方法无效

专利信息
申请号: 201210017888.0 申请日: 2012-01-19
公开(公告)号: CN102710228A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 饶俊 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十研究所
主分类号: H03G3/20 分类号: H03G3/20;G01R31/28
代理公司: 成飞(集团)公司专利中心 51121 代理人: 郭纯武
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种一键测试自动增益控制环路时间常数的方法。利用本方法不需要使用仪器和人工操作,自动完成测试。本发明通过下述技术方案予以实现:首先针对设计在可编程门阵列芯片(FPGA)中的被测AGC环路,编制接收开始测试命令,改变被测自动增益控制(AGC)环路增益,产生一个判断AGC环路是否处于稳定状态的测试比较器和对被测AGC环路系统钟进行计数的计数器,完成对被测AGC环路时间常数的测试程序,在被测AGC环路模型上构建测试模型;再由测试比较器判断被测AGC环路输出的峰值功率Vout是否小于或大于设定的门限值Vref,然后将输出的计数值的结果上报给计算机计算出环路稳定时间,并显示结果。本发明可替代频谱仪测试信号幅度,测试AGC环路时间常数。
搜索关键词: 测试 自动增益控制 环路 时间常数 方法
【主权项】:
一键测试自动增益控制环路时间常数的方法,具有如下技术特征:(1)针对设计在可编程门阵列芯片(FPGA)中的被测AGC环路,在FPGA中编制接收开始测试命令,改变被测自动增益控制(AGC)环路增益,产生一个判断AGC环路是否处于稳定状态的测试比较器和对被测AGC环路系统钟进行计数的计数器,完成对被测AGC环路时间常数的测试程序,在被测AGC环路模型上构建测试模型;(2)计算机通过CPCI、PCI、串口、网络与FPGA连接,向FPGA发出开始测试的控制命令,由上述测试比较器判断被测AGC环路输出的峰值功率Vout是否小于或大于设定的门限值Vref后,输出结束脉和计数值;然后将计数值的结果上报给计算机,计算机根据上报结果和被测AGC环路的系统钟计算出环路稳定时间,并显示结果。
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