[发明专利]应力匹配的双材料微悬臂梁的制造方法有效

专利信息
申请号: 201210024934.X 申请日: 2012-02-06
公开(公告)号: CN103241706A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 尚海平;焦斌斌;刘瑞文;陈大鹏;李志刚;卢迪克 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;C23C16/40;C23C16/44
代理公司: 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 代理人: 陈红
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种应力匹配的双材料微悬臂梁的制造方法,包括:在衬底上采用LPCVD沉积应力为F1的压应力SiO2膜,F1<0;对压应力SiO2膜注入掺杂剂,在其表面形成重掺杂SiO2膜退火使得压应力SiO2膜转变为应力为F2的张应力SiO2膜,F2>0;控制淀积温度,在重掺杂SiO2膜上方形成具有应力为F3的Al薄膜,其中F3=F2。依照本发明的应力匹配的双材料微悬臂梁的制造方法,其工艺简单、与传统微细加工工艺兼容,不但实现双材料悬臂梁的应力完全匹配,而且明显增强SiO2的抗XeF2腐蚀能力,最终使采用Al和SiO2双材料的、应力完全匹配的悬臂梁制作成功实现。
搜索关键词: 应力 匹配 材料 悬臂梁 制造 方法
【主权项】:
一种应力匹配的双材料微悬臂梁的制造方法,包括:在衬底上采用LPCVD沉积应力为F1的压应力SiO2膜,F1<0;对压应力SiO2膜注入掺杂剂,在其表面形成重掺杂SiO2膜;退火使得压应力SiO2膜转变为应力为F2的张应力SiO2膜,F2>0;控制淀积温度,在重掺杂SiO2膜上方形成具有应力为F3的Al薄膜,其中F3=F2。
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