[发明专利]用于计量和包装多晶硅块的方法和装置及计量和包装单元有效

专利信息
申请号: 201210027789.0 申请日: 2012-02-08
公开(公告)号: CN102633002A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 马蒂亚斯·维特兹;赖纳·赫尔茨尔维默尔;布鲁诺·利希滕埃格尔 申请(专利权)人: 瓦克化学股份公司
主分类号: B65B1/32 分类号: B65B1/32;B65B1/04;B65B37/18
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丙林;刘书芝
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及用于计量和包装多晶硅块的方法和装置以及计量和包装单元。本发明涉及一种计量和包装多晶硅块的方法,其中多晶硅块的产品流通过进料通道输送,通过至少一个筛子分离为粗块和细块,通过计量秤称重和计量至目标重量,通过排放通道排放,并输送至将第一塑料袋充填多晶硅块并密封的包装单元,其中,这个包含多晶硅块的塑料袋通过另一个由成型机形成的塑料袋包装,并随后被熔接,其中至少一个筛子和计量秤在它们的表面上至少部分包括硬质金属,并且用于形成塑料袋的成型机包括耐磨涂层。此外,本发明还涉及一种计量单元、一种包装单元、一种用于计量和包装多晶硅块的装置,其包含计量单元和包装单元。
搜索关键词: 用于 计量 包装 多晶 方法 装置 单元
【主权项】:
一种用于计量多晶硅块的装置的计量单元,包括适于传送多晶硅块的产品流的进料通道、适于将产品流分离为粗的和细的多晶硅块的至少一个筛子、用于粗的多晶硅块的粗计量通道和用于细的多晶硅块的细计量通道,以及用于确定计量重量的计量秤,其中所述至少一个筛子和所述计量秤在它们的表面上至少部分包括硬质金属。
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