[发明专利]透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统有效
| 申请号： | 201210028761.9 | 申请日： | 2012-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN102539482A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 胡建明;谭波;张玉 | 申请（专利权）人： | 重庆师范大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 谢殿武 |
| 地址： | 400047 *** | 国省代码： | 重庆;85 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，包括取样组件和微电流电路；取样组件包括硬质导电体I和硬质导电体II，被检测薄膜位于所述硬质导电体I与硬质导电体II之间被紧密挤压，所述硬质导电体I或/和硬质导电体II与被检测薄膜接触的表面设有柔性导电层；本发明利用柔性导电层的受压变形特性，当被检测薄膜出现微孔缺陷时，柔性导电层被挤入微孔，与另一导电体电接触，实现导电，则会在回路中产生微电流或电流变化，通过观察或者采集回路中的电流状况，能够轻易获得薄膜微孔缺陷，由此可见，本发明用于检测薄膜，能够较为简单准确的获取透明薄膜的微孔缺陷，以保证透明薄膜的成品合格率，同样适用于不透光薄膜微孔缺陷的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 透明 薄膜 微孔 缺陷 电流 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种透明薄膜微孔缺陷微电流检测系统，其特征在于：包括取样组件和微电流电路；所述取样组件包括硬质导电体I和硬质导电体II，被检测薄膜位于所述硬质导电体I与硬质导电体II之间被紧密挤压，所述硬质导电体I或/和硬质导电体II与被检测薄膜接触的表面设有柔性导电层；所述微电流电路包括电源和电流检测单元，所述硬质导电体I、硬质导电体II和电流检测单元串联于电源组成串联电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆师范大学，未经重庆师范大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210028761.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电子束辐射有效射程的测定方法及带状剂量指示计
- 下一篇：多瓶检测容器
