[发明专利]一种测试用集成电路在审
申请号: | 201210030447.4 | 申请日: | 2012-02-10 |
公开(公告)号: | CN102543960A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 何军 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种测试用集成电路,其位于晶片的切割道区,包括多组测试焊垫,其中,不同组测试焊垫交错放置,每个测试焊垫组的测试焊垫的间距至少为探针的最小间距;可见,本发明通过将不同组的测试焊垫交错放置,在保证探针的最小间距不变的情况下,减小了测试焊垫专用的面积,从而使实际电路的空间增多,提高了集成电路的空间利用率。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 集成电路 | ||
【主权项】:
一种测试用集成电路,位于晶片的切割道区,其特征在于:该测试用集成电路包括多组测试焊垫,其中,不同组测试焊垫交错放置,每个测试焊垫组的测试焊垫的间距至少为探针的最小间距。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宏力半导体制造有限公司,未经上海宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210030447.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:金属硅化物阻挡层的形成方法
- 下一篇:低电压驱动普通手压式灭火器开启装置