[发明专利]随机激励闪存模型验证方法有效
| 申请号： | 201210030837.1 | 申请日： | 2012-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN102623069A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 刘松;陆崇心;李峰;张洪柳 | 申请（专利权）人： | 山东华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人： | 丁修亭 |
| 地址： | 250101 山东省济南市历下区（*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种随机激励闪存模型验证方法，依据与非闪存操作命令权重编写伪汇编命令权重脚本；依据与非闪存模型读取与非闪存参数和测试条件，配置与非闪存模型接口驱动；调用所述伪汇编命令权重脚本随机产生汇编伪命令，并通过以命令权重为约束条件产生预定总数的汇编伪命令，而生成伪汇编测试序列；解析所述伪汇编测试序列，通过接口驱动对闪存模型进行测试。依据本发明的验证方法能够针对不同的闪存模型提供较高的测试覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 随机 激励 闪存 模型 验证 方法 | ||
【主权项】：
一种随机激励闪存模型验证方法，其特征在于，依据与非闪存操作命令权重编写伪汇编命令权重脚本；依据与非闪存模型读取与非闪存参数和测试条件，配置与非闪存模型接口驱动；调用所述伪汇编命令权重脚本随机产生汇编伪命令，并通过以命令权重为约束条件产生预定总数的汇编伪命令，而生成伪汇编测试序列；解析所述伪汇编测试序列，通过接口驱动对闪存模型进行测试。
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