[发明专利]工件分割装置及工件分割方法有效
申请号: | 201210031062.X | 申请日: | 2012-02-13 |
公开(公告)号: | CN102646584A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 清水翼;藤田隆;小岛恒郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社东京精密 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301;H01L21/67;B28D5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 雒运朴 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种防止切割带的松弛导致的芯片的品质降低等的工件分割装置及工件分割方法。在将经由芯片粘接膜贴附在切割带上的工件沿着预先形成的预定分离线分割成各个芯片的工件分割装置中,具备:工件,其由具有预定分离线的半导体晶片构成;选择性冷却机构,其选择性地对包括贴附在所述芯片粘接膜上的所述工件的预定分离线的所述芯片粘接膜的区域进行冷却;工件分割机构,其在进行所述冷却后使所述切割带扩展而将所述工件及所述芯片粘接膜分割;选择性加热机构,其选择性地对所述切割带的经由所述芯片粘接膜贴附有所述工件的区域以外的部分进行加热,从而消除所述切割带的因所述扩展引起的松弛。 | ||
搜索关键词: | 工件 分割 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种工件分割装置,将经由芯片粘接膜贴附在切割带上的工件沿着预先形成的预定分离线分割成各个芯片,其特征在于,具备:由具有预定分离线的半导体晶片构成的工件;选择性冷却机构,其选择性地对包括贴附在所述芯片粘接膜上的所述工件的预定分离线的所述芯片粘接膜的区域进行冷却;工件分割机构,其在进行所述冷却后使所述切割带扩展而将所述工件及所述芯片粘接膜分割;选择性加热机构,其选择性地对所述切割带的经由所述芯片粘接膜贴附有所述工件的区域以外的部分进行加热,从而消除所述切割带的因所述扩展引起的松弛。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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