[发明专利]放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置无效
| 申请号： | 201210031490.2 | 申请日： | 2012-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN102759507A | 公开（公告）日： | 2012-10-31 |
| 发明（设计）人： | 壁谷泰宏;古田宽和;八木晴久 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 樊建中 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置，目的在于能够在不将被检物加热至高温的情况下测定被检物的放射率。本发明提供的放射率测定方法包括：红外光照射步骤，对被检物照射第一放射能的红外光；测定步骤，根据来自照射了所述红外光的所述被检物的反射红外光测定第二放射能；以及计算步骤，基于所述第一放射能与所述第二放射能计算所述被检物的放射率。 | ||
| 搜索关键词： | 放射 测定 方法 装置 检查 | ||
【主权项】：
一种放射率测定方法，其特征在于包括：红外光照射步骤，对被检物照射第一放射能的红外光；测定步骤，根据来自照射了所述红外光的所述被检物的反射红外光测定第二放射能；以及计算步骤，基于所述第一放射能与所述第二放射能计算所述被检物的放射率。
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