[发明专利]3D结构非易失性存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210034844.9 申请日: 2012-02-16
公开(公告)号: CN102646682A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 申学燮;吴尚炫 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 俞波;郭放
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了3D结构非易失性存储器件及其制造方法。所述非易失性存储器件包括:沟道结构,所述沟道结构每个都沿着第一方向延伸,其中所述沟道结构每个都包括交替层叠的沟道层和层间电介质层;源极结构,所述源极结构沿着与第一方向交叉的第二方向延伸并且与沟道结构的端部连接,其中,所述源极结构包括交替层叠的源极线和层间电介质层;以及字线,所述字线沿着第二方向延伸并且被形成为围绕所述沟道结构。
搜索关键词: 结构 非易失性存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种非易失性存储器件,包括:沟道结构,所述沟道结构每个都沿着第一方向延伸,其中所述沟道结构每个都包括交替层叠的沟道层和层间电介质层;源极结构,所述源极结构沿着与第一方向交叉的第二方向延伸并且与沟道结构的端部连接,其中,所述源极结构包括交替层叠的源极线和层间电介质层;以及字线,所述字线沿着第二方向延伸并且被形成为围绕所述沟道结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海力士半导体有限公司,未经海力士半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210034844.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top