[发明专利]半导体器件和存储器保护方法有效

专利信息
申请号: 201210038076.4 申请日: 2012-02-17
公开(公告)号: CN102693191A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 中井弘人;金井达德;前田贤一 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G06F12/14 分类号: G06F12/14
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;于静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及半导体器件和存储器保护方法。一般地,根据一个实施例,一种半导体器件包括:处理器;和存储器件。所述存储器件具有非易失性半导体存储器件并且被配置为作为处理器的主存储器。当处理器执行多个程序时,所述处理器作为用于各程序的工作集来管理执行所述程序所要求的信息片段,并且为各工作集创建表,所述表保持各工作集要求的信息片段和在所述存储器件中的所述信息片段的地址之间的关系。所述处理器参照用于所述各工作集的对应的表存取所述存储器件。
搜索关键词: 半导体器件 存储器 保护 方法
【主权项】:
一种半导体器件,所述器件包括:处理器;以及存储器件,所述存储器件具有非易失性半导体存储器件并且被配置为作为所述处理器的主存储器,其中当所述处理器执行多个程序时,所述处理器作为用于各程序的工作集来管理执行所述程序所要求的信息片段,并且为各工作集创建表,所述表保持各工作集要求的信息片段和在所述存储器件中的所述信息片段的地址之间的关系,以及所述处理器参照用于所述各工作集的对应的表存取所述存储器件。
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