[发明专利]液晶单元特性测定装置以及液晶单元特性测定方法有效
| 申请号： | 201210043918.5 | 申请日： | 2012-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN103176297A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 刘志祥;江直融;罗偕益 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01B11/06;G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种液晶单元特性测定装置以及液晶单元特性测定方法。液晶单元特性测定装置包括：光源、至少三个偏光产生器、至少三个物镜、至少三个偏光分析器以及数据处理器。每一偏光产生器从光源取出具有特定偏光成分的偏光光线，每一偏光光线以倾斜入射角度投射到液晶单元。每一物镜以设定的收光角度而接收透射过液晶单元的每一偏光光线，收光角度对应于倾斜入射角度。每一偏光分析器取得来自于每一物镜的偏光光线的偏光强度。数据处理器根据至少三个收光角度中的每一偏光光线的偏光强度，而至少能计算液晶单元的厚度或液晶单元内的液晶分子的预倾角。此外，还提出液晶单元特性测定方法。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 单元 特性 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶单元特性测定装置，至少能测定该液晶单元的厚度或该液晶单元内的液晶分子的预倾角，该液晶单元特性测定装置的特征在于包括：光源；至少三个偏光产生器，每一偏光产生器从该光源取出具有特定偏光成分的一偏光光线，每一偏光光线以一倾斜入射角度投射到该液晶单元；至少三个物镜，每一物镜以设定的一收光角度而接收透射过该液晶单元的每一偏光光线，该收光角度对应于该倾斜入射角度；至少三个偏光分析器，每一偏光分析器取得来自于每一物镜的该偏光光线的偏光强度；以及数据处理器，根据至少三个收光角度中的每一偏光光线的偏光强度，而计算该液晶单元的厚度或该液晶单元内的液晶分子的预倾角。
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