[发明专利]提高晶圆清洁度的清洗方法及清洗甩干设备在审
申请号: | 201210045385.4 | 申请日: | 2012-02-27 |
公开(公告)号: | CN102580941A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 王毅博 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | B08B3/02 | 分类号: | B08B3/02;F26B5/08 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种能够提高晶圆清洁度的清洗甩干方法,包括以下步骤:提供一清洗台,将晶圆水平放置于所述清洗台上;将清洗喷头设置于所述晶圆的圆心上方,所述清洗喷头的出液方向倾斜于所述晶圆的垂线方向;晶圆启动水平自转,所述清洗喷头启动水平移动;开始清洗过程,所述清洗喷头喷出清洗液至晶圆表面,所述清洗喷头水平移动至偏离所述晶圆圆心的位置停止;结束清洗,所述清洗喷头停止供应清洗液,所述晶圆继续水平自转,以甩干所述晶圆。本发明还提供了一种清洗甩干设备。本发明能够极大地提高晶圆清洁度,减少液体杂质及颗粒杂质的残留问题,对设备的改进简单易行,成本低廉,在提高晶圆产品的性能、成品率和可靠性的同时节约了工艺成本。 | ||
搜索关键词: | 提高 清洁 清洗 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种能够提高晶圆清洁度的清洗甩干方法,包括:提供一清洗台,将晶圆水平放置于所述清洗台上;将清洗喷头设置于所述晶圆的圆心上方,所述清洗喷头的出液方向倾斜于所述晶圆的垂线方向;晶圆启动水平自转,所述清洗喷头启动水平移动;开始清洗过程,所述清洗喷头喷出清洗液至晶圆表面,所述清洗喷头水平移动至偏离所述晶圆圆心的位置停止;结束清洗,所述清洗喷头停止供应清洗液,所述晶圆继续水平自转,以甩干所述晶圆。
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