[发明专利]相变存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210053872.5 申请日: 2012-03-02
公开(公告)号: CN103296049A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 李莹;吴关平;王蕾 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种相变存储器及其制造方法,所述相变存储器包括:衬底,位于衬底上的存储单元阵列和电路单元,所述电路单元位于所述存储单元阵列周围,所述相变存储器还包括位于所述存储单元阵列和所述电路单元之间的、围绕所述存储单元阵列的沟槽隔离结构。所述相变存储器的制造方法,包括:提供衬底;在衬底上的存储单元区域形成存储单元阵列;在衬底上形成围绕所述存储单元阵列的沟槽隔离结构;在衬底上沟槽隔离结构的周围区域形成电路单元。所述沟槽隔离结构可以使所述存储单元阵列和所述电路单元之间绝缘,可以减小存储单元阵列和电路单元之间的寄生二极管,以提高相变存储器的性能。
搜索关键词: 相变 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种相变存储器,包括:衬底,位于衬底上的存储单元阵列和电路单元,所述电路单元位于所述存储单元阵列周围,其特征在于,所述相变存储器还包括位于所述存储单元阵列和所述电路单元之间的、围绕所述存储单元阵列的沟槽隔离结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210053872.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top