[发明专利]重液分离法检测药用蒙脱石的杂质含量和种类无效
| 申请号： | 201210056632.0 | 申请日： | 2012-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN102607925A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 张为胜;李诗标;张晶;张梅雪 | 申请（专利权）人： | 济南康众医药科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/34 | 分类号： | G01N1/34;G01N23/20;G01N23/22;G01N5/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 250014 山东省济南市*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种重液分离法检测药用蒙脱石的杂质含量和/或种类，是取蒙脱石试样，用重液分离法将蒙脱石和杂质充分分离后，干燥，称重，计算杂质的含量；取杂质作粉晶X射线衍射图谱、根据X射线衍射的特征峰,判断试样中存在的矿物种类；偏光显微镜法、相差显微镜法、扫描电镜法或透射电镜法中的一种方法确认杂质的晶体形态。能准确测得蒙脱石中杂质的含量，解决了目前药用蒙脱石中杂质含量无测定方法的技术问题。杂质中不含蒙脱石，排除了蒙脱石对X射线吸收系数较大的矿物杂质的鉴别干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 分离法 检测 药用 蒙脱石 杂质 含量 种类 | ||
【主权项】：
一种重液分离法检测药用蒙脱石的杂质含量和/或种类,其特征在于：取蒙脱石试样，用重液分离法将蒙脱石和杂质充分分离后，干燥，称重，计算杂质的含量；取杂质作粉晶X射线衍射图谱、根据X射线衍射的特征峰,判断试样中存在的矿物种类；偏光显微镜法、相差显微镜法、扫描电镜法或透射电镜法中的一种方法确认杂质的晶体形态。
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