[发明专利]具有抗横向干扰的硅纳米带巨压阻效应微加速度计有效

专利信息
申请号: 201210057647.9 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN102680738A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 李孟委;刘俊;杜康;王莉;李锡广 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01P15/12 分类号: G01P15/12;B81B3/00
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 皋吉甫
地址: 030051*** 国省代码: 山西;14
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种具有抗横向干扰的硅纳米带巨压阻效应微加速度计,主要结构由键合基底、敏感质量块、固定外框、组合梁、硅纳米线电阻、凹槽、阻尼孔组成,组合梁由检测梁、连接块、横向缓冲梁组成,硅纳米线电阻由硅纳米带电阻层、硅纳米带电阻正极、硅纳米带电阻负极组成;以键合基底为载体,在键合基底上键合有固定外框,固定外框的四边中心位置处连接有组合梁,组合梁连接于敏感质量块的四角部位,且内嵌于组合梁运动空间内,组合梁由检测梁、连接块、横向缓冲梁组成,结构设计紧凑,既能充分利用空间,适合器件微型化,又能抗击横向干扰,提高检测精度,硅纳米带电阻由硅纳米带电阻层、硅纳米带电阻正极、硅纳米带电阻负极组成,硅纳米带电阻层所具有巨压阻效应比传统的硅压阻器件的压阻灵敏度高约2个数量级,可大幅提高硅压阻式传感器的检测灵敏度和分辨率。
搜索关键词: 具有 横向 干扰 纳米 带巨压阻 效应 加速度计
【主权项】:
具有抗横向干扰的硅纳米带巨压阻效应微加速度计,其特征在于:主要结构由键合基底、敏感质量块、固定外框、组合梁、硅纳米线电阻、凹槽、阻尼孔组成,组合梁由检测梁、连接块、横向缓冲梁组成,硅纳米线电阻由硅纳米带电阻层、硅纳米带电阻正极、硅纳米带电阻负极组成;在键合基板(1)的四周区域键合有固定基座(3),固定基座(3)内侧四边的中心位置处连接有组合梁(4、5、6、7)的一端,组合梁(4、5、6、7)的另一端分别连接于敏感质量块(2)的四角部位,敏感质量块(1)上均布有阻尼孔(17),组合梁(4、5、6、7)的根部区域分别制作有硅纳米带电阻(8、9、10、11)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中北大学,未经中北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210057647.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top