[发明专利]基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法无效

专利信息
申请号: 201210058406.6 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN102589496A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 周波林;李定彬 申请(专利权)人: 中冶建工集团有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01C15/00
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 钟继莲
地址: 400050 重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明提供一种基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法,该方法在互相不能通视的A、B点之外加密一个新控制点C,通过采用全站仪的角度测回法以及往返距离的测量,测量出AC、BC之间的距离及∠ACB的角度,再通过坐标正算法利用A、B坐标计算出AB之间的理论距离,用于验证全站仪测量数据的精确度及准确性,最后利用正、余弦定理以及坐标的反算求得新控制点C的平面位置,提高了测量精度,保证了测量工作的顺利进行。
搜索关键词: 基于 余弦 定理 算法 平面 控制 测量方法
【主权项】:
基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)布点:在测区内,有已知A、B两个控制点的坐标(xA,yA)、(xB,yB),A、B两控制点相互不能通视;在AB两控制点的连线以外加密一个新控制点C,C的坐标设为(xC,yC),C点既能通视A也能通视B;(2)测量:运用全站仪的测距功能测AC的距离为b,BC的距离为a;然后再用测回法测得∠ACB的角度;(3)计算:a、运用坐标反算的方法求得AB的方位角为αAB;b、根据正弦定理计算出∠BAC的角度;c、根据第a步算出的AB的方位角αAB以及第b步算出的∠BAC的大小可计算出AC的方位角αAC;d、用坐标正算的方法计算出新控制点C的坐标(xC,yC)。
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