[发明专利]一种栅控二极管半导体器件的制造方法有效
申请号: | 201210061478.6 | 申请日: | 2012-03-11 |
公开(公告)号: | CN102592997A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 王鹏飞;林曦;孙清清;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于半导体器件制造技术领域,具体为一种栅控二极管半导体器件的制造方法。本发明采用低温工艺制备栅控二极管半导体器件,工艺过程简单、制造成本低,而且所制造的栅控二极管器件具有大驱动电流、小亚阈值摆幅的优点。本发明所提出的栅控二极管半导体器件的制造方法特别适用于平板显示、相变存储器的读写器件以及基于柔性衬底的半导体器件的制造中。 | ||
搜索关键词: | 一种 二极管 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种栅控二极管半导体器件的制造方法,其特征在于具体步骤包括:在p型衬底之上形成第一种绝缘薄膜;刻蚀所述第一种绝缘薄膜形成有源区窗口;在所述第一种绝缘薄膜及有源区窗口之上淀积n型材料,作为有源区,在所述有源区窗口处与p型衬底接触;覆盖所述n型有源区形成第二种绝缘薄膜;刻蚀所述第二种、第一种绝缘薄膜,在所述有源区窗口的两侧分别形成漏极接触窗口和源极接触窗口,漏极接触孔处p型衬底被暴露,源极接触孔处n型有源区被暴露;淀积形成第一种导电薄膜并刻蚀所述第一种导电薄膜形成漏极电极、栅极电极、源极电极,漏极电极位于漏极接触孔之上并充满所述漏极接触孔,源极电极位于源极接触孔之上并充满所述源极接触孔,并且,栅极电极处于源极电极和所述有源区窗口之间,有源区窗口处于漏极电极和栅极极电极之间,栅极电极和有源区窗口间距为20纳米至1微米。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于复旦大学,未经复旦大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210061478.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:锡渣螺旋进料装置
- 下一篇:一种面向短信的字符二维码编码方法和解码方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造