[发明专利]试剂制备装置、试剂制备方法及样本处理装置有效
| 申请号： | 201210065060.2 | 申请日： | 2012-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN102680718A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 池田穣;中西利志 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的试剂制备装置包括：试剂制备部件，用于制备样本处理中所用的试剂；测量部件，用于测量所述试剂制备部件制备的试剂的特性；废弃部件，用于废弃所述测量部件的测量结果不符合一定条件的试剂；及控制部件，用于控制所述试剂制备部件的试剂制备作业；其中，当所述测量部件的测量结果不符合所述一定条件的次数达到指定的复数次时，该控制部件停止所述试剂制备部件的试剂制备作业。本发明还提供一种试剂制备方法和样本制备装置。 | ||
| 搜索关键词： | 试剂 制备 装置 方法 样本 处理 | ||
【主权项】：
一种试剂制备装置，包括：试剂制备部件，用于制备在样本处理中所用的试剂；测量部件，用于测量所述试剂制备部件制备的试剂的特性；废弃部件，用于废弃所述测量部件的测量结果不符合一定条件的试剂；及控制部件，用于控制所述试剂制备部件的试剂制备作业，其中当所述测量部件的测量结果不符合所述一定条件的次数达到指定的复数次时，所述控制部件停止所述试剂制备部件的试剂制备作业。
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