[发明专利]半导体装置及其检查方法、以及发送电路有效

专利信息
申请号: 201210070149.8 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN102931996A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 卯尾丰明 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H03M3/00 分类号: H03M3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈萍
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实施方式的半导体装置具备:模拟数字转换部;脉冲宽度调制部,输出与数字信号对应的脉冲类型的传输信号;以及参照信号生成部,生成固定脉冲的参照信号。并且具备:第一控制部,选择上述传输信号及上述参照信号的某一个;发光元件驱动部,输出基于上述传输信号或上述参照信号的驱动电流;以及发光元件,发出基于上述传输信号或上述参照信号的光信号。还具备:光接收部,将上述光信号转换为电压信号;以及解调部,将上述电压信号解调为基于上述传输信号或上述参照信号的数字信号。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 检查 方法 以及 发送 电路
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具备:模拟数字转换部,将模拟信号转换为数字信号;脉冲宽度调制部,输出与从上述模拟数字转换部输出的所述数字信号对应的脉冲类型的传输信号;参照信号生成部,生成固定的脉冲类型的参照信号;第一控制部,选择上述传输信号及上述参照信号的某一个;发光元件驱动部,输出基于由上述第一控制部选择的上述传输信号或上述参照信号的驱动电流;发光元件,由上述发光元件驱动部驱动,发出基于上述传输信号或上述参照信号的光信号;光接收部,将接收上述光信号的受光元件的光电流转换为电压信号;以及解调部,将上述电压信号解调为基于上述传输信号或参照信号的数字信号。
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