[发明专利]一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法有效

专利信息
申请号: 201210071234.6 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN102646278A 公开(公告)日: 2012-08-22
发明(设计)人: 高红霞;褚夫国;陈鑫源;麦倩;胡跃明 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G01B11/24;G01B11/28
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 杨晓松
地址: 510641 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X光图像,得到X光图像矩阵;(2)对所述X光图像矩阵进行预处理;(3)初步确定气泡的边缘:通过Canny边缘检测法对经预处理的X光图像进行检侧,得到二值图像矩阵A;(4)确定气泡的边缘轮廓、质心以及面积。本发明实现了对元器件封装中的气泡进行精确定位,并且具有检测速度快的优点。
搜索关键词: 一种 基于 图像 元器件 封装 气泡 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X光图像,得到X光图像矩阵;(2)对所述X光图像矩阵进行预处理;(3)初步确定气泡的边缘:通过Canny边缘检测法对经预处理的X光图像进行检侧,得到气泡的边缘,并得到二值图像矩阵A;(4)确定气泡的边缘轮廓、质心以及面积,具体为:(4-1)设定膨胀腐蚀模板矩阵为B,先通过二值图像矩阵A被B形态学开运算去除孤立点,再通过A被B进行形态学闭运算连接非封闭边缘,得到二值图像的封闭区域;(4-2)对二值图像的封闭区域进行气泡填充:设Xk为气泡内的点,令X0=1,则气泡填充过程为:根据进行迭代,直至Xk=Xk-1;{Xk| k=0,1、2...}为组成气泡的点集;其中C=010111010;]]>(4-3)对气泡轮廓进行标记:设Yk为气泡轮廓上的点,Y0为气泡轮廓上的一个已知点,对二值图像中的连通分量进行提取,其过程如下:根据进行迭代,直至Yk=Yk-1;{Yk| k=0,1、2...}为标志气泡轮廓的点集;(4-4)根据(4-3)标记的气泡轮廓确定气泡的质心及面积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210071234.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top