[发明专利]一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法有效
申请号: | 201210071234.6 | 申请日: | 2012-03-16 |
公开(公告)号: | CN102646278A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 高红霞;褚夫国;陈鑫源;麦倩;胡跃明 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G01B11/24;G01B11/28 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 杨晓松 |
地址: | 510641 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X光图像,得到X光图像矩阵;(2)对所述X光图像矩阵进行预处理;(3)初步确定气泡的边缘:通过Canny边缘检测法对经预处理的X光图像进行检侧,得到二值图像矩阵A;(4)确定气泡的边缘轮廓、质心以及面积。本发明实现了对元器件封装中的气泡进行精确定位,并且具有检测速度快的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 图像 元器件 封装 气泡 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于X光图像的元器件封装气泡检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X光图像,得到X光图像矩阵;(2)对所述X光图像矩阵进行预处理;(3)初步确定气泡的边缘:通过Canny边缘检测法对经预处理的X光图像进行检侧,得到气泡的边缘,并得到二值图像矩阵A;(4)确定气泡的边缘轮廓、质心以及面积,具体为:(4-1)设定膨胀腐蚀模板矩阵为B,先通过二值图像矩阵A被B形态学开运算去除孤立点,再通过A被B进行形态学闭运算连接非封闭边缘,得到二值图像的封闭区域;(4-2)对二值图像的封闭区域进行气泡填充:设Xk为气泡内的点,令X0=1,则气泡填充过程为:根据进行迭代,直至Xk=Xk-1;{Xk| k=0,1、2...}为组成气泡的点集;其中C = 0 1 0 1 1 1 0 1 0 ; ]]> (4-3)对气泡轮廓进行标记:设Yk为气泡轮廓上的点,Y0为气泡轮廓上的一个已知点,对二值图像中的连通分量进行提取,其过程如下:根据进行迭代,直至Yk=Yk-1;{Yk| k=0,1、2...}为标志气泡轮廓的点集;(4-4)根据(4-3)标记的气泡轮廓确定气泡的质心及面积。
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