[发明专利]模拟电路测试装置有效
| 申请号： | 201210073244.3 | 申请日： | 2012-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN102628923A | 公开（公告）日： | 2012-08-08 |
| 发明（设计）人： | 隋海建;宋红东 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明;余刚 |
| 地址： | 100086 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模拟电路测试装置，包括：产生电路，用于提供测试向量；第一获取电路，连接于被测电路的输入端和产生电路之间，用于获取测试向量以及将测试向量施加至被测电路；第二获取电路，连接于被测电路的输出端，用于获取被测电路的输出信息；以及分析电路，与第二获取电路相连接，用于根据被测电路的输出信息判断被测电路的功能正确性。通过本发明，解决了相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，进而达到了使得模拟电路测试装置无需连接外部设备也能够进行测试的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 模拟 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种模拟电路测试装置，其特征在于，包括：产生电路，用于提供测试向量；第一获取电路，连接于被测电路的输入端和所述产生电路之间，用于获取所述测试向量以及将所述测试向量施加至所述被测电路；第二获取电路，连接于所述被测电路的输出端，用于获取所述被测电路的输出信息；以及分析电路，与所述第二获取电路相连接，用于根据所述被测电路的输出信息判断所述被测电路的功能正确性。
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