[发明专利]一种基线动态测量系统的精度获取方法有效
| 申请号： | 201210077707.3 | 申请日： | 2012-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN103323855A | 公开（公告）日： | 2013-09-25 |
| 发明（设计）人： | 向茂生;王静;韦立登;刘忠胜;孙曦蕊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S7/48 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基线动态测量系统的精度获取方法。该方法包括：天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹，基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化，分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化；根据基线动态测量系统和激光跟踪仪的坐标系转换关系，把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系下；以基线动态测量系统坐标系下激光跟踪仪测量的天线的相位中心的位置和姿态变化作为标准值，将基线动态测量系统的测量值与该标准值比较，进行误差统计分析，得到基线动态测量系统的测量精度。本发明采用高精度的激光跟踪仪作为参照系统，误差小，评估的精度更真实可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基线 动态 测量 系统 精度 获取 方法 | ||
【主权项】：
一种基线动态测量系统的精度获取方法，包括：在天线模型上分别安装基线动态测量系统和激光跟踪仪的合作目标，将天线模型安装于天线模拟运动平台上；基线动态测量系统和激光跟踪仪分别对准所述天线模型上相应的合作目标；天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹，基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化，分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化；根据基线动态测量系统和激光跟踪仪的坐标系转换关系，把激光跟踪仪测量的模拟天线的相位中心的位置和姿态变化统一到基线动态测量系统坐标系下；以基线动态测量系统坐标系下激光跟踪仪测量的天线的相位中心的位置和姿态变化作为标准值，将基线动态测量系统的测量值与该标准值比较，进行误差统计分析，得到基线动态测量系统的测量精度。
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