[发明专利]基板处理方法和存储介质有效
申请号: | 201210077997.1 | 申请日: | 2012-03-22 |
公开(公告)号: | CN102691065A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 曾根隆;西村荣一 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23F4/00 | 分类号: | C23F4/00;H01L21/3065 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够不使用卤素气体而对至少含有铂的层进行蚀刻的基板处理方法。在使用具有规定的图案形状的钽层(38)对在晶片(W)形成的铂锰层(37)进行蚀刻时,使用含有一氧化碳气体、氢气和氩气的处理气体,在该处理气体中,相对于一氧化碳气体和氢气的合计流量,氢气的流量比为50%~75%。 | ||
搜索关键词: | 处理 方法 存储 介质 | ||
【主权项】:
一种基板处理方法,其使用掩膜对形成于基板的至少含有铂的层进行蚀刻,该基板处理方法的特征在于:使用至少含有一氧化碳气体、氢气和稀有气体的处理气体,对所述至少含有铂的层进行蚀刻,相对于所述一氧化碳气体和所述氢气的合计流量,所述氢气的流量比为50%~75%。
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