[发明专利]氮化物半导体发光装置无效

专利信息
申请号: 201210082249.2 申请日: 2012-03-26
公开(公告)号: CN102867894A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 沈炫旭;李东柱;申东益;金荣善;浅井诚;孙俞利 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/14;H01L33/36
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 刘灿强;韩芳
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供了一种氮化物半导体发光装置,所述氮化物半导体发光装置包括:发光结构,具有p型氮化物半导体层、n型氮化物半导体层和形成在它们之间的活性层;p侧电极和n侧电极,分别电连接至p型氮化物半导体层和n型氮化物半导体层;以及接触层,设置在p型氮化物半导体层和p侧电极之间,并包括具有第一杂质浓度以与p侧电极形成欧姆接触的第一p型氮化物层和具有第二杂质浓度的第二p型氮化物层,第二杂质浓度低于第一杂质浓度。
搜索关键词: 氮化物 半导体 发光 装置
【主权项】:
一种氮化物半导体发光装置,所述氮化物半导体发光装置包括:发光结构,具有p型氮化物半导体层、n型氮化物半导体层以及形成在p型氮化物半导体层与n型氮化物半导体层之间的活性层;p侧电极和n侧电极,p侧电极电连接至p型氮化物半导体层,n侧电极电连接至n型氮化物半导体层;以及接触层,设置在p型氮化物半导体层和p侧电极之间,并包括具有第一杂质浓度以与p侧电极形成欧姆接触的第一p型氮化物层和具有第二杂质浓度的第二p型氮化物层,第二杂质浓度低于第一杂质浓度。
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