[发明专利]一种用于相变存储器的钨掺杂改性的相变材料及其应用无效

专利信息
申请号: 201210085567.4 申请日: 2012-03-27
公开(公告)号: CN103367633A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 宋宏甲;宋志棠;饶峰;吴良才;彭程;朱敏;刘波 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 许亦琳;余明伟
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种用于相变存储器的钨掺杂改性的相变材料,该材料属于微电子技术领域。本发明的相变材料的通式为,A为、和中的任一种,x、y、z为原子百分比,且0<x<0.65,0.35<y<0.8,0.25<z<0.95。所述相变材料在外部电驱动脉冲作用下具有可逆相变。通过适当调节钨的掺杂含量,可使其物性发生改变,得到的材料与其未掺杂的材料A相比,具有更高的结晶温度,有助于提高相变存储器的热稳定性和数据保持力,同时保持着原有材料纳秒级的相变速度。另外该相变材料中的各元素与COMS兼容性好,且其制备工艺成熟,并可进一步获得基于所述钨掺杂改性的相变材料的相变存储器件单元。
搜索关键词: 一种 用于 相变 存储器 掺杂 改性 材料 及其 应用
【主权项】:
一种用于相变存储器的钨掺杂改性的相变材料,其化学组成符合化学通式WxA1‑x,其中A选自Ge2Sb2Te5、SbyTe1‑y和GezTe1‑z中的一种,x、y、z为原子百分比,且0<x<0.65,0.35<y<0.8,0.25<z<0.95。
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