[发明专利]半导体结构在审

专利信息
申请号: 201210087638.4 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN103165550A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 沈更新 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明为一半导体结构,包含基板、至少二衬垫、钝化层、至少二凸块底层金属层及至少二凸块。衬垫沿第一方向相邻设置于基板上。且钝化层覆盖于基板及各衬垫的周围上表面以分别界定一开口,各开口于第二方向各具有一开口投影,开口投影各自相邻设置而不重叠,其中,第一方向与第二方向垂直。凸块底层金属层则设置于各个开口上。而凸块则分别设置于各凸块底层金属层上。此种半导体结构,可使凸块的宽度增大,而不受限于凸块间距。
搜索关键词: 半导体 结构
【主权项】:
一种半导体结构,包含:基板;至少二衬垫,沿第一方向相邻设置于该基板上;钝化层,覆盖该基板并覆盖各该衬垫的周围上表面以分别界定至少一开口,各该开口于第二方向各具有一开口投影,该些开口投影相邻设置而不重叠,且该第一方向与该第二方向垂直;以及至少二凸块底层金属层,分别设置于各该开口上;至少二凸块,分别设置于各该凸块底层金属层上。
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